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商品詳細
Reliability of Nanoscale Circuits and Systems: Methodologies and Circuit Architectures.
・ISBN 978-1-4419-6216-4 hard EUR 99.99
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| 著者・編者 | Stanisavljevic, Milos / Schmid, Alexandre / Leblebici, Yusuf, |
|---|---|
| 出版社 | (Springer-Verlag New York Inc., US) |
| 出版年月 | 2010 |
| ページ数 | 195 pp. |
| 言語 | ENG |
| ニュース番号 | ＜A05-55460＞ |
解説
This book is intended to give a general overview of reliability, faults, fault models, nanotechnology, nanodevices, fault-tolerant architectures and reliability evaluation techniques. Additionally, the book provides an in depth state-of-the-art research results and methods for fault tolerance as well as the methodology for designing fault-tolerant systems out of highly unreliable components.