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商品詳細
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects. 2012 ed.
・ISBN 978-1-4419-8296-4 hard EUR 99.99
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★★★
| 著者・編者 | Tehranipoor, Mohammad / Peng, Ke / Chakrabarty, Krishnendu, |
|---|---|
| 出版社 | (Springer-Verlag New York Inc., US) |
| 出版年月 | 2011 |
| ページ数 | 212 pp. |
| 言語 | ENG |
| ニュース番号 | ＜A05-45425＞ |
解説
This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.