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商品詳細
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309.
・ISBN 978-1-107-40948-4 paper GB£ 25.99
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| 著者・編者 | Rodbell, Kenneth P. / Filter, William F. / Frost, Harold J. / Ho, Paul S. (eds.), |
|---|---|
| シリーズ | (MRS Proceedings) |
| 出版社 | (Cambridge University Press, UK) |
| 出版年月 | 2014 |
| ページ数 | 514 pp. |
| 言語 | ENG |
| ニュース番号 | ＜A00-5567＞ |